Caractéristiques – performances

Source
FEG-200kV

Filtre en énergie intégré dans la colonne type Omega {EELS, imagerie et diffraction filtrées}
Résolution point-point : 0.23nm
Résolution en énergie : 0.7eV {EELS}
Porte-objets simple et double-tilt JEOL 
 Porte-objet froid (LN2) double-tilt GATAN
Module STEM + détecteur HAADF (sonde ~1nm)
CCD 2048×2048 px²

EELS

Pertes proches
Agrégats métalliques dans des matrices diélectriques (propriétés optiques, magnétiques)
Couches minces d’oxyde à forte constante diélectrique
ELNES
Couches minces d’oxyde
Phases MAX
Multicouches métalliques

Imagerie filtrée

Imagerie chimique (HAADF, EFTEM)
Mécanismes de nitruration
Physico-chimie des interfaces de poudres revêtues
Cavités et défauts étendus dans les semi-conducteurs

Imagerie « élastique »
Mécanismes élémentaires de la plasticité (faisceaux faibles)

Diffraction filtrée

Diffraction en faisceau parallèle
Diffusion diffuse, transition de phases dans les oxydes
Étude structurale des quasi-cristaux

CBED et LACBED
Mesure de densité de charge
Mesure des déformations et étude des défauts structuraux